光学测角比较仪
光学测角比较仪 型号:XQZ
用途和特点:
XQZ光学测角比较仪可广泛适用于光学及机械制造业中,计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量;导轨的直线度及平板的平面度校准测量;两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
XQZ光学测角比较仪操作简便、直观,测量稳定可靠,借助辅助设备用途广泛。
技术参数:
型号 Model |
示值 Graduation |
分度范围 Scale Range |
目镜放大倍率 Magnification |
示值不确定度 Uncertainty |
工作距离范围 working range |
外形 Dimension(D×W×H) |
XQ60-ZⅠ | 1′ | V60′,H40′ | 10×/15× | ±6″ | 0~1.4m | 200×250×400 |
XQ15-ZⅡ | 15″ | V50′,H38′ | 20× | ±3″ | 0~1.4m | 200×250×400 |
CCD监控系统(适用ZI型)