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光学测角比较仪

光学测角比较仪        型号:XQZ

用途和特点:
        XQZ光学测角比较仪可广泛适用于光学及机械制造业中,计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量;导轨的直线度及平板的平面度校准测量;两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
       XQZ光学测角比较仪操作简便、直观,测量稳定可靠,借助辅助设备用途广泛。
技术参数:

型号 
Model
示值 
Graduation
分度范围 
Scale Range
目镜放大倍率
Magnification
示值不确定度 
Uncertainty
工作距离范围 
working range
外形 
Dimension(D×W×H)
XQ60-ZⅠ 1′ V60′,H40′ 10×/15× ±6″ 0~1.4m 200×250×400
XQ15-ZⅡ 15″ V50′,H38′ 20× ±3″ 0~1.4m 200×250×400
选配件:
CCD监控系统(适用ZI型)

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